アナログ入力をテストする
DAQデバイスのAI関数をテストするには、以下の手順に従ってください。
- ツリー構図からデバイスとインタフェース→従来型NI-DAQ（レガシー）デバイスを展開します。
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テストするデバイスを右クリックします。テストパネルを選択して、デバイスのテストパネルを表示します。
–または–
テストするデバイスを選択します。MAXのツールバーでテストパネルをクリックします。
テストパネルが表示されます。デフォルトでアナログ入力タブが選択されています。
- チャンネルからDAQデバイスチャンネルを選択します。
- チャートのY軸の最大および最小入力範囲を入力します。
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データモードを選択します。
- ストリップチャート—ソフトウェアで決められるレートで連続的にサンプルを集録します。
- ワンショット—サンプルレート（Hz）により定義された周波数で1000個のサンプルを集録します。
- 連続—サンプルレート（Hz）により定義された周波数で連続的なサンプルを集録します。
ワンショットまたは連続データモードのいずれかを選択すると、開始とサンプルレート（Hz）の両方が有効になります。サンプルレート（Hz）にサンプリング周波数を入力します。開始をクリックして、データ集録を開始します。終了をクリックして、テストをキャンセルします。
ストリップチャートを選択すると、テストが自動的に実行します。
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Y軸のスケールモードを選択します。
- 自動スケール—MAXはデータに最適なスケーリングを選択します。
- フル範囲—最大および最小入力範囲値を使用してY軸をスケールします。
- デバイスで問題が発生すると、エラー表示器が赤く点灯します。エラーコードをクリックすると、エラーに関する詳細情報が表示されます。
- 終了したら閉じるをクリックします。