デジタルI/Oをテストする

NI-DAQ Measurement & Automation Explorer

デジタルI/Oをテストする

DAQデバイスのDIO関数をテストするには、以下の手順に従ってください。

  1. ツリー構図からデバイスとインタフェース→従来型NI-DAQ(レガシー)デバイスを展開します。
  2. テストするデバイスを右クリックします。テストパネルを選択して、デバイスのテストパネルを表示します。

    –または–

    テストするデバイスを選択します。MAXのツールバーでテストパネルをクリックします。

    テストパネルが表示されます。デジタル入出力タブをクリックします。

  3. ライン方向選択のリストにある各ラインに対し、入力または出力ラジオボタンをクリックして入出力方向を選択します。
  4. 出力を選択したら、ラインの論理レベルをクリックして高(1)または低(0)のいずれかの状態を選択します。ラインステートは、高出力の場合表示器を赤で表示し、低出力の場合は表示器が消えたままになります。
  5. デバイスで問題が発生すると、エラー表示器が赤く点灯します。エラーコードをクリックすると、エラーに関する詳細情報が表示されます。
  6. 終了したら閉じるをクリックします。