获得测试结果

• 概述

• 每个测量点的测试结果

• 每条迹线的测试结果

• 每条通道的测试结果

• 总测试结果

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概述

您可以通过发出结果检索命令或通过状态寄存器来获得测试结果。

每个测量点的测试结果

利用检索测试结果的命令

您可以通过在不合格测量点检索激励值来获得每个测量点的测试结果。为了检索不合格测量点，利用以下命令：

利用状态寄存器

您不能利用状态寄存器来获得每个测量点的测试结果。

每条迹线的测试结果

利用检索测试结果的命令

您可以通过发出以下命令来检索每条迹线的测试结果（亦即将所有测量点的结果组合成一条特定迹线的全迹线结果）：

利用状态寄存器

隶属于可疑极限通道{1-16}状态寄存器的条件寄存器和事件寄存器提供了与迹线1~14相对应的14位并包含相应迹线的测试结果（0:合格，1:不合格）。例如，您可以根据1位来获得迹线1的测试结果以及根据14位来获得迹线14的测试结果。隶属于可疑极限通道{1-16}附加状态寄存器的条件寄存器和事件寄存器提供了与迹线15~16相对应的两位并包含相应迹线的测试结果（0:合格，1:不合格）例如，您可以根据1位来获得迹线15的测试结果以及根据2位来获得迹线16的测试结果。

当测量周期起动时，条件寄存器的每一位被设定为0。完成测量时，与不合格迹线相对应的那些位被设定为1。

若正过渡滤波器的相应位被设定为1（预置值1），则当条件寄存器的相应位从0变为1时（表明相应的迹线使测试不合格），事件寄存器的每一位被设定为1。

为了检索寄存器，利用以下命令：

• 尽管E5071C上可提供多达36个通道，但用于极限测试和波动/带宽极限测试的寄存器最多到16通道。

每个通道的测试结果

利用检索测试结果的命令

未提供允许您直接检索每个通道的测试结果（亦即将所有迹线的结果组合到一个特定通道中的全通道结果）的命令。

利用状态寄存器

可疑极限状态事件寄存器提供了与通道1~14相对应的14位并包含相应通道的测试结果（0:合格，1:不合格）。例如，您可以根据1位来获得通道1的测试结果以及根据14位来获得通道14的测试结果。可疑极限附加状态事件寄存器提供了与通道1~2相对应的9位并包含相应通道的测试结果（0:合格，1:不合格）例如，您可以根据1位来获得通道15的测试结果以及根据2位来获得迹线16的测试结果。

在事件寄存器由*CLS清除之后，条件寄存器的每一位被设定为0。当完成测量时，若将所有迹线的结果组合到一个通道中的全通道测试结果“不合格”，则条件寄存器的相应位被设定为1。

若正过渡滤波器的相应位被设定为1（预置值1），则当条件寄存器的相应位从0变为1时，事件寄存器的每一位被设定为1。

为了检索寄存器，利用以下命令：

使用状态寄存器获得一个通道（本例当中为通道1）的测试结果

总测试结果

利用检索测试数据的命令

未提供允许您直接检索对所有通道的测试结果进行组合的总测试结果的命令。

利用状态寄存器

隶属于可疑状态事件寄存器的条件寄存器和事件寄存器各提供了位10，由此，您可以获得总测试结果（0:合格，1:不合格）。

在事件寄存器由*CLS清除之后，条件寄存器的位10被设定为0。当测量完成时，若对所有通道的结果进行组合的总测试结果“不合格”，则该位被设定为1。

若正过渡滤波器的位10被设定为1（预置值），则当条件寄存器的位10从0变为1时，事件寄存器的位10被设定为1。

为了检索隶属于可疑状态事件寄存器的条件寄存器和事件寄存器，利用以下命令：

利用状态寄存器获得总测试结果