设置低延时外触发方式
概述
在低延时外触发方式下，通过使用提供给外触发输入端的触发脉冲，可以减小点触发测量从接收触发到开始一点式测量的延时变化范围。另外，使用该触发方式，还可以减少执行一点式测量后准备下一次测量触发所需时间的变化范围。使用该触发方式，可以与外触发脉冲同步执行连续的点触发测量，并精确设置每个点触发点的触发延时。
测量每个测量点所需的时间随 E5071C 的设置和测量类型的不同而有所不同。有关更多信息，请参见外触发延时和点触发间隔。
启动点触发功能并将触发源设为“External”（外部）后，即可使用低延时外触发方式。
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低延时外触发方式 |
功能 |
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ON（开） |
将低延时外触发方式设置为“ON”（开）。外触发延时将生效。 |
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OFF（关） |
将低延时外触发方式设置为“OFF”（关）。 |
如果触发源不是外触发，则即使将低延时外触发方式指定为“ON”（开），该方式也无效。
低延时外触发方式的设置对于所有通道均有效。
设置低延时外触发
1. 设置低延时外触发
如果将触发源设置为“External”（外部），且触发事件设置为“On”（开）（点测量），则设置低延时外触发方式。
按“Trigger”（触发）键。
单击“Low Latency”（低延时）。
单击“ON”（开）以激活低延时外触发方式。
2. 设置外触发延时
在每个点上设置外触发延时。设置分辨率为 10 µs。
按“Trigger”（触发）键。
单击“Trig Delay”（触发延迟）。
输入外触发延时。
外触发延时和点触发间隔
直到开始一点式测量之后，下一次测量已准备就绪才提供的外触发脉冲将无效，下一个触发由完成一点式测量后提供的脉冲产生。
开始一点式测量到可接收下一个触发的时间取决于分析仪的 IFBW 和其他设置。例如，在进行频率的零间隔测量情况下，开始一点式测量之后到下一次测量已准备好的时间由将扫描测量模式（而不是点测量模式）下单次扫描所需的时间除以测量点数来求得。如果利用具有比这个时间更长的外触发脉冲的点触发功能，则点触发测量将在每次脉冲输入时进行。
下图示出了点触发功能启动时外触发的时序图。
外触发时序图（触发事件 = 发生、触发源 = 外部、低延时外触发方式 = 开）
下表示出了上图中呈现的信号和时间。
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信号/时间 |
描述 |
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External Trig（外触发） |
要提供的外触发信号。 |
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Sampling（取样） |
E5071C 实际进行测量的时间。 |
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Index（指示） |
/处理器 I/O 端口的指示信号。点触发功能为“ON”（开）且低延时外触发方式为“ON”（开）时，该指示只在开始测量第一个扫描点之前变为高电平，在完成测量所有测量点后将返回到低电平。 |
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Point Trigger Period（点触发周期） |
E5071C 准备好接收用于下一个测量点触发所需的时间。该值取决于 E5071C 的测量条件和设置。 |
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td1 |
设置为外触发延时的时间。 |
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td2 |
E5071C 内部所需的设置时间。这个时间取决于设置频率的建立时间、IF 频带等。对于零间隔测量，td2 = 13±1 µs （典型值）。 |