提高测量吞吐量
本部分介绍提高测量吞吐量的方法。
更改扫描方式
E5071C 提供了两种扫描方式：步进式和扫掠式。
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方式 |
步进式 |
扫掠式 |
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测量可靠性 |
高 |
低 |
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扫描时间 |
长 |
短 |
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测量限制 |
无特定限制 |
无法正确测量电延迟较长的 DUT。 |
选择扫描方式的步骤
按“Sweep Setup”（扫描设置）键。
单击“Sweep Mode”（扫描方式）。
从“Stepped”（步进式）或“Swept”（扫掠式）中选出合适的扫描方式。
概述
在步进式中，频率是逐步变化的，采样在固定频率上对每个测量点进行。相反，在扫掠式中，采样以始终不断扫动的频率对每个测量点进行。
在步进式中，由于频率是逐步变化的，所以需要留出一定的时间，让每个测量点处的频率稳定下来。因而，扫掠式的扫描时间通常比步进式的扫描时间要短。但是，如果测量点的间隔极大，受仪器的频率扫描速度限制，将无法在采样时间内完成下一测量点频率的扫描。这会需要等待一定的时间，直到下一测量点的测量开始。因此，在这种情况下，扫掠式的扫描时间实际上会更长。
尽管根据 IF 带宽设置，情况会有一些不同，但当测量点间隔约为 30 MHz 或更小时，扫掠式的扫描时间会比步进式的扫描时间要短。
当使用扫掠式时，请确保在执行实际测量前已解决所有与测量相关的问题。
扫掠式有以下缺点。
无法正确测量电延时较长的 DUT。有关更多信息，请参考测量具有长电延时 DUT 的注意事项
与步进式相比，由于在执行采样的同时进行频率扫描，因此迹线噪声可能会增加
规格不能保证
测量具有长电延时 DUT 的注意事项
当对加到 DUT 的信号频率 (F) 扫描时，由于 DUT 中会发生延时 (△T)，因此 DUT 的输入方和输出方会存在频差。如以下随着 DUT 的电延时变长和频率扫描速度变快，频差 (△F) 将增大，如下面的公式所示。
测量电延时较长的 DUT 时，如果在扫掠式下扫描测量信号时执行测量（采样），由于从源端口输出的频率和在接收机端口上实际测量到的频率之间存在差异，将发生测量误差。
因此，测量电延时较长的 DUT 时，通常会使用步进式，以防止发生上述测量误差。但是，如果需要缩短扫描时间，要对下述测量误差作出评估，以确定应采用的扫描方式。
关闭 LCD 屏幕显示信息的更新
关闭 LCD 屏幕显示信息的更新以省去在分析仪中更新显示信息所需的处理时间，从而提高测量吞吐量。如果在测量过程中不需要检查显示信息，则关闭实时更新是提高吞吐量的有效手段。
可以使用以下步骤来打开或关闭 LCD 屏幕显示信息的更新：
关闭信息更新
按“Display”（显示）键。
单击“Update”（更新），打开/关闭 LCD 屏幕显示信息的更新。
关闭 LCD 屏幕更新后，“Update Off”（更新关闭）将出现在仪器状态栏上。
关闭系统误差校正
E5071C 将使用出厂时设置的系统校准数据，在数据处理流程图中所示的数据处理流程中执行端口特性校正。如果用户使用随后出现的“Cal”（校准）键和功能键执行了正确的校准，则不需要执行系统误差校正流程，因为执行校准后将自动打开误差校正。
关闭系统误差校正后，可以减少测量过程中所需的数据处理时间，从而提高测量吞吐量。
打开/关闭系统误差校正时，将删除用户校准所设置的所有校准数据。
按“System”（系统）键。
单击“Service Menu”（服务菜单）>“System Correction”（系统校正）。
单击“OK”（确定），打开/关闭系统误差校正。