Basic Threshold，基础阈值配置页
在Data Test Items配置页选择了哪个测试项，就会在此配置页显示其相应的阈值参数。下面对每一个测试项进行解释：
RawData Test测试项
整体归一的RawData测试项
自动归一和默认的RawData测试项
原始数据测试， 此测试项根据读取到的Raw Data判断待测屏的开路短路。在Rawdata_Min和RawData_Max设置最小和最大的测试阈值，如果测试时，读取到的Raw Data有在测试阈值之外的，则此测试项为Fail，反之，为Pass。
整体归一测试原始数据测试包括两部分： 低频状态下的原始数据与高频状态下的原始数据测试，两者综合结果决定RawData Test是否PASS
自动归一和默认测试原始数据测试只有测试低频状态下的原始数据
Adc Detect Test测试项
ADC饱和度测试， Max Threshold为写入Adc寄存器最大值，如果没有溢出，则测试结果PASS，否则NG
SCap CB Test测试项
自电容部分的CB测试，检测CB是否饱和。
ScapCB的测试包括两部分，关防水下的Scap CB测试与开防水下的Scap CB测试，两者综合结果决定Scap CB Test是否PASS
Scap RawData Test测试项
自电容部分的RawData测试，包括开防水(Waterproof On)与关防水(Waterproof Off)下的RawData测试，两者综合结果决定Scap RawData Test是否PASS
Channel Num Test测试项
通道数测试。分为mapping和no mapping，检测读取出来的Tx和Rx数量是否与FW中的设置mapping 和 no mapping时设定的数量一致。一致则Pass，有出入则Fail。
Int Pin Test测试项
INT测试项，检测中断功能。
Reset Pin Test测试项
Reset测试项，检测Reset功能，Reset脚位与Wake脚位共用一个脚位。
Noise Test测试项
噪声测试，测试在无外界干扰情况下屏体的噪声干扰。
Select Frames是选择参与噪声测试的RawData帧数，Select Time是选择参与噪声测试的采样时间。
Tip Before Test选择是否在Noise测试之前提示。
Glove Mode是是否选择手套模式。若选中则Rawdata_Min有效，否则无效
Noise_Mode是噪声判断类型，Avg是以均值噪声为噪声值，Max是以最大的噪声为噪声值，Max-Min以帧内最大值-最小值作为噪声值，X(n)-X(n+1)以获取的Rawdata的帧数的每后一帧减去前一帧，噪声值为相应的节点的所有值的最大值。
Rawdata_Min是在FIR=1，默认频率下，获取一帧Rawdata值取其中最小的一个Rawdata值，若该值大于等于设定的Rawdata_Min阈值时则PASS，小于该阈值时则NG。
Noise Threshold Choose是选择设置阈值的方式，默认为选择Noise_Coefficient的方式，勾选选择Noise_Max的方式。
Noise_Coefficient是读取用于计算噪声阈值的噪声测试的系数，有节点的噪声值大于此计算出阈值则NG，否则为PASS。
Noise_Max是直接设置的噪声的阈值，噪声值大于该阈值则测试NG,否则Pass。
TP Tool Process用来选择是使用工具来收集噪声值，还是使用FW来收集噪声值。
Min NG Frame最大允许NG的帧数。
Gloce Noise Coefficient是读取用于计算手套模式的噪声阈值的噪声测试的系数，有节点的噪声值大于此计算出阈值则NG，否则为PASS。
Weak Short-circuit Test测试项
弱短路测试，可以检测通道之间的微短。CG_Min为对地短路阈值，CC_Min为通道间短路阈值
Uniformity Test测试项
均匀度测试，均匀度测试又分为三小项：
Tx Lineary： 检查Tx线性度， 大于阈值则NG
Rx lineary： 检查Rx线性度， 大于阈值则NG
Min/Max： 检查整屏一致性，小于阈值则NG
三则是相与的关系，只有三则都测试通过，整个Uniformity测试才通过，可以单独对其中一部分进行设置
CM Test测试项
CM值检查测试，分为两部分：
Min CM： 在特定频率下获取RawData，并反向计算出CM值，如果CM值比设置阈值（Threshold）小，则NG
Max CM： 在特定频率下获取RawData，并反向计算出CM值，如果CM值比设置阈值（Threshold）大，则NG
两者是相与的关系，只有两项都通过，整个CM测试才算通过，可以单独对其中一部分进行设置
Rawdata Margin Test测试项
Ratio Max： 最低频点计算出原始RawData，若RawData < 计算出的值，则测试OK，否则测试NG
Ratio Min： 最高频点计算出原始RawData，若RawData > 计算出的值，则测试OK，否则测试NG
Panel Differ Test测试项
PanelDiffer_Min： 设置的panel Differ阈值的最小值
PanelDiffer_Max： 设置的panel Differ阈值的最大值
Panel Differ Uniformity Test测试项
均匀度测试，均匀度测试又分为三小项：
Tx Lineary： 检查Tx线性度， 大于阈值则NG
Rx lineary： 检查Rx线性度， 大于阈值则NG
Min/Max： 检查整屏一致性，小于阈值则NG
三则是相与的关系，只有三则都测试通过，整个Panel Differ Uniformity测试才通过，可以单独对其中一部分进行设置
SITO Rawdata Uniformity Test测试项
SITO rawdata均匀度测试，均匀度测试又分为二小项：
Tx Lineary： 检查Tx线性度， 大于阈值则NG
Rx lineary： 检查Rx线性度， 大于阈值则NG
二则是相与的关系，只有二则都测试通过，整个SITO Rawdata Uniformity测试才通过，可以单独对其中一部分进行设置
LCD Noise Test测试项
lCD Noise测试，先将设置的前五个值写入相应的寄存器，然后读取Noise的数据，然后与设定阈值相比较，若超出阈值，则测试NG。此外，若设置完参数后从新获取FrameNum与设定的Frame Max Num相比较，若大于设定值，则测试亦NG。
Pattern Test测试项
Pattern Test测试，若勾选前四个的任意个，则先擦除1K的flash，之后写入1K相应的勾选的值，如pattern 00，则这1k的flash中全部写0x00,其他类似，之后读出flash中的值，比较读写是否成功。若勾选pattern Bin则写入相应的app.bin，然后检查读写是否成功。
FPC Open Test测试项
先设置最小的Scap Rawdata数据,若测试中获取的scap rawdata数据小于设定的最小值，则测试NG。