3.1.3.6.1 Basic Threshold

Basic Threshold，基础阈值配置页

在Data Test Items配置页选择了哪个测试项，就会在此配置页显示其相应的阈值参数。下面对每一个测试项进行解释：

Channel Num Test测试项

通道数测试。此测试项检测读取出来的通道和按键数量是否与FW里设定的数量一致。一致则Pass，有出入则Fail。

Ci Test测试项

补偿电容测试。Ci是为获取均匀RawData而采取的补偿电容。此测试项根据补偿电容的变化来判断待测屏的开路短路。在Ci_Min和Ci_Max设置最小和最大的测试阈值，如果测试时，读取到的Ci Data有在测试阈值之外的，则此测试项为Fail，反之，为Pass。

Delta Ci Test测试项

补偿电容增量测试。这是通过一定的算法获取到的补偿电容增量（简称ΔCi）。ΔCi用于辅助判断待测屏的开路短路。下面是参数说明：

• Base是ΔCi的基准值，此阈值是多个良品的ΔCi的平均值。
• Differ_Max是一帧Delta_Ci_Differ的最大值，大于此阈值即NG。Delta_Ci_Differ是当前待测屏的ΔCi减去Base得到的差值。
• Deviation_Max_Sort是同一类Delta_Ci_Differ的最大值与最小值的偏差，超过此类的阈值即NG。为了兼顾不同的屏体，允许对通道进行分类，最多可分成6类（如何分类，将在Detail Threshold页说明），下面会介绍如何分类。默认情况下，所有通道都属于第1类。
• 上述Deviation_Max_Sort的判断是针对VA区通道，若要增加按键区判断，须勾选Include Key Test复选框，并设置其最大阈值Key_Differ_Max。
• Critical_Sort是比Deviation_Max_Sort更大的临界条件值。设置临界条件是为了判断要不要画线。如果测试过来的值落在Deviation_Max_Sort与Critical_Sort之间，则要画线复判屏体是否为良品。大于Critical_Sort则直接NG。
• CS是为了调整Ci而设置的寄存器，关于CS的设置，将在后面详解。

Chanels Deviation Test测试项

相邻通道差值测试。此测试项是Delta Ci Test测试项进一步细分判断，判断同一类相邻通道的Delta_Ci_Differ偏差。同样支持最多分成6类来判断（如何分类，将在Detail Threshold页说明）。

Deviation_Max_Sort是同一类相邻通道的最大偏差阈值，Critical_Sort是比Deviation_Max_Sort更大的临界条件值。

设置临界条件是为了判断要不要画线。如果测试过来的值落在Deviation_Max_Sort与Critical_Sort之间，则要画线复判屏体是否为良品。大于Critical_Sort则直接NG。

Two Sides Deviation Test测试项

相对通道差值测试。此测试项是Delta Ci Test测试项进一步细分判断，判断同一类相对通道的Delta_Ci_Differ偏差。同样支持最多分成6类来判断（如何分类，将在Detail Threshold页说明）。

Deviation_Max_Sort是同一类相邻通道的最大偏差阈值，Critical_Sort是比Deviation_Max_Sort更大的临界条件值。

设置临界条件是为了判断要不要画线。如果测试过来的值落在Deviation_Max_Sort与Critical_Sort之间，则要画线复判屏体是否为良品。大于Critical_Sort则直接NG。

RawData Test测试项

原始数据测试，此测试项根据读取到的Raw Data判断待测屏的开路短路，以及数据一致性。在Rawdata_Min和RawData_Max设置最小和最大的测试阈值，如果测试时，读取到的Raw Data有在测试阈值之外的，则此测试项为Fail，反之，为Pass。