3.1.3.1.1 Basic Threshold

FocalTech

3.1.3.1.1 Basic Threshold

Basic Threshold，基础阈值配置页

在Data Test Items配置页选择了哪个测试项，就会在此配置页显示其相应的阈值参数。下面对每一个测试项进行解释：

RawData Test测试项

原始数据测试，此测试项根据读取到的Raw Data判断待测屏的开路短路。在Rawdata_Min和RawData_Max设置最小和最大的测试阈值，如果测试时，读取到的Raw Data有在测试阈值之外的，则此测试项为Fail，反之，为Pass。

此系列芯片，测试了开防水与关防水两种状态下的RawData。

Panel_Differ Test测试项

虚拟触摸测试，此测试项判断待测屏的开路短路。在Panel_Differ_Min(abs)组合框和Panel_Differ_Max(abs)组合框设置最小绝对值阈值和最大绝对值阈值，如果测试时，读取到的Differ Data的绝对值在测试阈值之外，则此测试项为Fail，反之，为Pass。

Change Vol Level: 改变电压档数，根据当前芯片电压档改变电压档数。

BC_EN: 没选中时，enable，读取的Rawdata为RawData减去电容Base的Rawdata；若选中，则为Disable ，直接读取Rawdata。默认值为不选。
Set Start Vol and End Vol: 在这里可以设置开始时的电压档和改变后的电压档，此项有效，则改变电压档数（Change Vol Level）不在测试时使用。

Change Offset Level: 改变Offset档数。

Rx Short-Circuit Test测试项

Rx短路测试。可以测试Rx之间的短路。

SCap CB Test测试项

自电容部分的CB测试，检测CB是否饱和。

Scap RawData Test测试项

自电容部分的RawData测试，包括开防水(Waterproof On)与关防水(Waterproof Off)下的RawData测试。

Tx Short-Circuit Test测试项

TX短路测试。可以测试Tx之间的短路。

Channel Num Test测试项

通道数测试。此测试项检测读取出来的Tx和Rx数量是否与FW里设定的数量一致。一致则Pass，有出入则Fail。

Rx Crosstalk Test测试项

Rx串扰测试。此串扰测试的测试方法与别的芯片不同，以RawData值来判断Rx之间的短路。

Int Pin Test测试项

INT测试项，检测中断功能。

Reset Pin Test测试项

Reset测试项，检测Reset功能，Reset脚位与Wake脚位共用一个脚位。

Noise Test测试项

噪声测试，测试在无外界干扰情况下屏体的噪声干扰。Select Frames是选择参与噪声测试的RawData帧数，Select Time是选择参与噪声测试的采样时间。Tip Before Test选择是否在Noise测试之前提示。Noise_Mode是噪声判断类型，Avg是以均值噪声为噪声值，Max是以最大的噪声为噪声值。Noise_Max是噪声测试的最大阈值，有节点的噪声值大于此阈值则NG，否则为PASS。

SCape Differ Test测试项