5.版本历史
From FocalTech
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版本修改信息
Revision History
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Date |
Version |
SIU FW |
Changes List |
Author |
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2014-05-27 |
2.1.0.0 |
V3.3 |
初版。 支持的测试模式包括单TP测试、多TP独立测试和多TP联合测试三种模式。 支持的芯片系列,包括FT5X36、FT5X36i、FT3X16、FT3X26、FT5X16。 |
Zeng Rui |
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2014-07-01 |
2.2.0.0 |
SIU板V6.3对应FW版本:V3.3
SIU板V7.3对应FW版本:V7.4 |
1. 增加支持的芯片系列,包括FT5X46、FT5X46i、FT3X17、FT5506/FT5606/FT5816、FT6X06、FT3X06、FT6X36、FT3X07。 2. 优化配置模块,使之操作更流畅。 3. 支持长时间检测连接即开始测试(即插即测),以及测试完成后提示换屏。 4. 增加GPIO接口电平信号输入输出功能,支持通过输入信号启动测试,通过输出信号输出测试结果。 5. 测试数据存储方面,增加保存Message测试信息(*.txt),供工程师分析使用。*.CSV文件供程序解析使用。 6. 增加自动加载配置文件和FW文件的功能。 |
Wu Xun Zeng Rui |
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2014-08-20 |
2.3.0.0 |
SIU板V6.3对应FW版本:V3.3
SIU板V7.3对应FW版本:V7.4 |
1. 自容IC增加 FPC 测试项 2. 重构画线测试模块,增加四边画线与 freepaint 3. 增加SIU板测试与烧录功能 4. 增加IC型号FT5526,支持win8整机测试 5. FT5X46、FT5X46i增加Uniformity测试与CM测试项 6. 支持用户输入工位,系统号,并将用户信息添加到保存文件 6,支持Win8单TP的测试 7,设置时间,测试结束后,定时将GPIO端口翻转 8,MSG界面支持测试结果的高亮显示 |
Wu Xun Wan Ying |
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2014-10-20 |
2.4.0.0 |
SIU板V6.3对应FW版本:V3.3
SIU板V7.3对应FW版本:V7.4 |
1. 添加自容的Sref Open测试项,自容6X36、3X07的IC增加 CB Deviation、TE 测试项。 2. 5336的Panel Differ测试项添加BC_EN测试选项,添加Uniformity测试项。 3.FT5X46、FT5X46i增加CM逐点卡控功能,Noise测试增加Golove模式及新的测试模式,Rawdata Margin测试项。 4. 存储测试结果添加了新的路径及格式。 5. 添加画图测试的Special Button Test测试项。 |
Wu Xun Zeng Rui |
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2014-12-18 |
2.5.0.0 |
SIU板V6.3对应FW版本:V3.3
SIU板V7.3对应FW版本:V7.4 |
1. 增加支持的芯片系列,包括FT5526i、FT5436、FT3X17、FT3X27、FT5822/FT5626、FT5726、FT5826B。 2. FT5X46、FT5X46i、FT5526 等芯片增加归一化功能。 3, FT6X36增加Differ Test;CB Deviation Test增加Base设置功能。 4. 修改FT5336芯片的SCap CB、SCap RawData、Uniformity、SCap Differ、TX short advance等测试项。 5. 空格进入、退出划线界面,FreePaint添加其No Once功能。 6. 添加测试结果统计功能。 7. 增大图标显示测试结果。 8. 修改FT5446、FT6X36、FT6X06等芯片的一些测试项。 |
Wu Xun Wan Ying |
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2015-02-15 |
2.6.0.0 |
SIU板V6.3对应FW版本:V3.3
SIU板V7.3对应FW版本:V7.4 |
1. 增加支持的芯片系列,包括FT5306、FT5406。 2. FT5822、FT5626、FT5726 、FT5826B 等芯片增加归一化功能。 3. 互容测试NG节点增加颜色显示。 4. 修改FT5446、FT5822等芯片的一些测试项。 5. FT5X46、FT5X46i、FT5526 等芯片增加归一化功能的double Check。 6. 增加全屏绘图功能。 |
Wu Xun Wan Ying |
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2015-05-07 |
2.7.0.0 |
SIU 板 V6.3 对应FW 版本: V3.3
SIU板 V7.3 对应 FW 版本:V7.4 |
1. 增加支持的芯片系列,包括FT8606。 2. 修改了5422和FT5822系列芯片归一化功能,仅有自动归一和整体归一。 3. 5336系列芯片添加SITO Uniformity Test测试项、Rx Short Advance Tests测试项。 4. 修改FT5446、FT5822等芯片的一些测试项的内容及发现的BUG。 5. 6X36系列芯片添加Differ Test2测试项。 6. FT5446系列芯片增加NG Log分类。 |
Wu Xun Wan Ying |
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2015-08-11 |
2.8.0.0 |
SIU 板 V6.3 对应FW 版本: V3.3
SIU板 V7.3 对应 FW 版本:V7.4 |
1. 增加支持的芯片,包括FT5435、FT7681、FT7661、FT7511、FT7811等。 2. 5X46系列芯片添加GPIO、LCD Noise等测试项。 3. 5336系列芯片的Uniformity测试项增加Detail设置。 4. 修改FT5446、FT5822等芯片的一些测试项的内容(如:弱短路,噪声测试等等)及发现的BUG。 5. 6X36系列芯片添加K1 Differ Test测试项。 6. 配置ini导入数据进行逐点设置时,增加一些测试项对应的GoldenSamples的平均值的保存。 7. 为互容芯片(FT5x46系列芯片、FT5822系列芯片、FT5x36系列芯片)的Project Code测试项增加ascii转换功能。
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Wu Xun Wan Ying |
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2015-10-27 |
2.9.0.0 |
SIU 板 V6.3 对应FW 版本: V3.3
SIU板 V7.3 对应 FW 版本:V7.4 |
1. 新增加支持的芯片,包括FT3C47U、FT3407U、FT5826S 、FT8716、FT7401等。 2. 5X46系列芯片添加FPC Open 等测试项。 3. 修改FT5446、FT5822、FT8716等系列芯片的一些测试项的内容(如:噪声测试、升级延迟、打印输出、修改配置等等)及发现的BUG。 4. 6X36系列芯片添加三个相关的画线测试项:Square Test、Circle Test、Key Test。 5. 增加测试结束后,若测试NG,则弹出提示对话框。
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Wu Xun Wan Ying |
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2016-03-08 |
3.0.0.0 |
SIU 板 V6.3 对应FW 版本: V3.3
SIU板 V7.3 对应 FW 版本:V7.4 |
1. 新增加支持的芯片,包括FT3D47、FT8607、FT8707 、FT8736、FTE716、FT5442、FT7681、FT7421等。 2. 5X46系列芯片添加panel id等测试项。 3. 5822系列芯片添加panel id等测试项,并添加download after test功能。 4. 修改FT5446、FT5822系列芯片的一些测试项的内容(如:修改LCD Noise/Noise测试的阈值偏移问题、逐点添加、修改配置页面等等)及发现的BUG。 5. 8606系列芯片添加OSC60MHZ test、OSC TRM Test、ORC Test、IVSN Test测试项。 6. 8607系列芯片添加OSC TRM Test、ORC Test、differ Test、Differ Uniformity Test、LPWG Rawdata Test、LPWG CB test、LPWG Noise Test测试项。 7. 8716系列芯片添加GPIO Test、LCD Noise Test测试项。
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Wu Xun Wan Ying |
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2016-07-26 |
4.0.0.0 |
SIU 板 V6.3 对应FW 版本: V3.3
SIU板 V7.3 对应 FW 版本:V7.4 |
1. 新增加支持的芯片,包括FT3428U、FT6236U、FT6436U 等。 2. 为5X46、5822、8716、E716系列芯片添加Lock down信息。 3. 添加8716的测试项LCD noise、IC Type、Reset detection。 4. 添加8736的测试项cb decrease、IC Type。 5. 添加E736的测试项IC Type及AscII显示。 6. 修改FT5X46、FT8607、FT8716、FT8736、FTE716系列芯片的一些测试项的内容(如:修改wpg noise测试项、分开rawdata的VA及Vkey区、修改配置页面等等)及发现的BUG(如:解决5X46系列芯片Oncell芯片数据溢出问题等等)。 7. 6X36系列芯片添加FoolProof test、LCD Noise Test、Report Test测试项。 8. 3C47U、3D47系列芯片添加FPC Open Test测试项。 9. 添加5822的Home key划线测试。 10. 添加6x36的press channle 划线测试。 11. 添加8716的Erase Flash测试
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Wu Xun Wan Ying |
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