5.版本历史

From FocalTech

5.版本历史    

版本修改信息

 

Revision History

Date

Version

SIU FW

Changes List

Author

2014-05-27

2.1.0.0

V3.3

初版。

支持的测试模式包括单TP测试、多TP独立测试和多TP联合测试三种模式。

支持的芯片系列,包括FT5X36FT5X36iFT3X16FT3X26FT5X16

Zeng Rui

2014-07-01

2.2.0.0

SIUV6.3对应FW版本:V3.3

 

SIUV7.3对应FW版本:V7.4

1.   增加支持的芯片系列,包括FT5X46FT5X46iFT3X17FT5506/FT5606/FT5816FT6X06FT3X06FT6X36FT3X07

2.   优化配置模块,使之操作更流畅。

3.   支持长时间检测连接即开始测试(即插即测),以及测试完成后提示换屏。

4.   增加GPIO接口电平信号输入输出功能,支持通过输入信号启动测试,通过输出信号输出测试结果。

5.   测试数据存储方面,增加保存Message测试信息(*.txt),供工程师分析使用。*.CSV文件供程序解析使用。

6.   增加自动加载配置文件和FW文件的功能。

Wu Xun

Zeng Rui

2014-08-20

2.3.0.0

SIUV6.3对应FW版本:V3.3

 

SIUV7.3对应FW版本:V7.4

1.      自容IC增加 FPC 测试项

2.      重构画线测试模块,增加四边画线与 freepaint

3.      增加SIU板测试与烧录功能

4.      增加IC型号FT5526,支持win8整机测试

5.      FT5X46FT5X46i增加Uniformity测试与CM测试项

6.      支持用户输入工位,系统号,并将用户信息添加到保存文件

6,支持Win8TP的测试

7,设置时间,测试结束后,定时将GPIO端口翻转

8MSG界面支持测试结果的高亮显示

Wu Xun

Wan Ying

2014-10-20

2.4.0.0

SIUV6.3对应FW版本:V3.3

 

SIUV7.3对应FW版本:V7.4

1.  添加自容的Sref Open测试项,自容6X36、3X07的IC增加 CB Deviation、TE 测试项。

2. 5336的Panel Differ测试项添加BC_EN测试选项,添加Uniformity测试项。

3.FT5X46FT5X46i增加CM逐点卡控功能,Noise测试增加Golove模式及新的测试模式,Rawdata Margin测试项。

4. 存储测试结果添加了新的路径及格式。

5. 添加画图测试的Special Button Test测试项。

Wu Xun

Zeng Rui

2014-12-18

2.5.0.0

SIUV6.3对应FW版本:V3.3

 

SIUV7.3对应FW版本:V7.4

1.   增加支持的芯片系列,包括FT5526i、FT5436、FT3X17、FT3X27、FT5822/FT5626、FT5726、FT5826B。

2.   FT5X46、FT5X46i、FT5526  等芯片增加归一化功能。

3,   FT6X36增加Differ Test;CB Deviation Test增加Base设置功能。

4.   修改FT5336芯片的SCap CB、SCap RawData、Uniformity、SCap Differ、TX short advance等测试项。

5.   空格进入、退出划线界面,FreePaint添加其No Once功能。

6.   添加测试结果统计功能。

7.   增大图标显示测试结果。

8.   修改FT5446、FT6X36、FT6X06等芯片的一些测试项。

Wu Xun

Wan Ying

2015-02-15

2.6.0.0

SIUV6.3对应FW版本:V3.3

 

SIUV7.3对应FW版本:V7.4

1.   增加支持的芯片系列,包括FT5306、FT5406。

2.   FT5822、FT5626、FT5726 、FT5826B  等芯片增加归一化功能。

3.   互容测试NG节点增加颜色显示。

4.   修改FT5446、FT5822等芯片的一些测试项。

5.   FT5X46、FT5X46i、FT5526  等芯片增加归一化功能的double Check。

6.   增加全屏绘图功能。

Wu Xun

Wan Ying

2015-05-07

2.7.0.0

SIU V6.3 对应FW 版本: V3.3

 

SIU V7.3 对应 FW 版本:V7.4

1.   增加支持的芯片系列,包括FT8606。

2.   修改了5422和FT5822系列芯片归一化功能,仅有自动归一和整体归一。

3.   5336系列芯片添加SITO Uniformity Test测试项、Rx Short Advance Tests测试项。

4.   修改FT5446、FT5822等芯片的一些测试项的内容及发现的BUG。

5.   6X36系列芯片添加Differ Test2测试项。

6.   FT5446系列芯片增加NG Log分类。   

Wu Xun

Wan Ying

2015-08-11

2.8.0.0

SIU V6.3 对应FW 版本: V3.3

 

SIU V7.3 对应 FW 版本:V7.4

1.   增加支持的芯片,包括FT5435、FT7681、FT7661、FT7511、FT7811等。

2.   5X46系列芯片添加GPIO、LCD Noise等测试项。

3.   5336系列芯片的Uniformity测试项增加Detail设置。

4.   修改FT5446、FT5822等芯片的一些测试项的内容(如:弱短路,噪声测试等等)及发现的BUG。

5.   6X36系列芯片添加K1 Differ Test测试项。

6.   配置ini导入数据进行逐点设置时,增加一些测试项对应的GoldenSamples的平均值的保存。

7.   为互容芯片(FT5x46系列芯片、FT5822系列芯片、FT5x36系列芯片)的Project Code测试项增加ascii转换功能

 

Wu Xun

Wan Ying

2015-10-27

2.9.0.0

SIU V6.3 对应FW 版本: V3.3

 

SIU V7.3 对应 FW 版本:V7.4

 

1.   新增加支持的芯片,包括FT3C47U、FT3407U、FT5826S 、FT8716、FT7401等。

2.   5X46系列芯片添加FPC Open 等测试项。

3.   修改FT5446、FT5822、FT8716等系列芯片的一些测试项的内容(如:噪声测试、升级延迟、打印输出、修改配置等等)及发现的BUG。

4.   6X36系列芯片添加三个相关的画线测试项:Square Test、Circle Test、Key Test。

5.   增加测试结束后,若测试NG,则弹出提示对话框。

 

Wu Xun

Wan Ying

2016-03-08

3.0.0.0

SIU V6.3 对应FW 版本: V3.3

 

SIU V7.3 对应 FW 版本:V7.4

 

1.   新增加支持的芯片,包括FT3D47、FT8607、FT8707 、FT8736、FTE716、FT5442、FT7681、FT7421等。

2.   5X46系列芯片添加panel id等测试项。

3.   5822系列芯片添加panel id等测试项,并添加download after test功能。

4.   修改FT5446、FT5822系列芯片的一些测试项的内容(如:修改LCD Noise/Noise测试的阈值偏移问题、逐点添加、修改配置页面等等)及发现的BUG。

5.   8606系列芯片添加OSC60MHZ test、OSC TRM Test、ORC Test、IVSN Test测试项。

6.   8607系列芯片添加OSC TRM Test、ORC Test、differ Test、Differ Uniformity Test、LPWG Rawdata Test、LPWG CB test、LPWG Noise Test测试项。

7.   8716系列芯片添加GPIO Test、LCD Noise Test测试项。

 

Wu Xun

Wan Ying

2016-07-26

4.0.0.0

SIU V6.3 对应FW 版本: V3.3

 

SIU V7.3 对应 FW 版本:V7.4

 

1.   新增加支持的芯片,包括FT3428U、FT6236U、FT6436U 等。

2.   为5X46、5822、8716、E716系列芯片添加Lock down信息。

3.   添加8716的测试项LCD noise、IC Type、Reset detection。

4.   添加8736的测试项cb decrease、IC Type。

5.  添加E736的测试项IC  Type及AscII显示。

6.   修改FT5X46、FT8607、FT8716、FT8736、FTE716系列芯片的一些测试项的内容(如:修改wpg noise测试项、分开rawdata的VA及Vkey区、修改配置页面等等)及发现的BUG(如:解决5X46系列芯片Oncell芯片数据溢出问题等等)。

7.   6X36系列芯片添加FoolProof test、LCD Noise Test、Report Test测试项。

8.   3C47U、3D47系列芯片添加FPC Open Test测试项。

9.   添加5822的Home key划线测试。

10.  添加6x36的press channle 划线测试。

11.  添加8716的Erase Flash测试

 

Wu Xun

Wan Ying

 

 

 


Copyright 2010-2015 FocalTech-Systems Co.,Ltd. All rights reserved