5.版本历史

Date

Version

SIU FW

Changes List

Author

2014-05-27

2.1.0.0

V3.3

初版。

支持的测试模式包括单TP测试、多TP独立测试和多TP联合测试三种模式。

支持的芯片系列，包括FT5X36、FT5X36i、FT3X16、FT3X26、FT5X16。

Zeng Rui

2014-07-01

2.2.0.0

SIU板V6.3对应FW版本：V3.3

SIU板V7.3对应FW版本：V7.4

1.   增加支持的芯片系列，包括FT5X46、FT5X46i、FT3X17、FT5506/FT5606/FT5816、FT6X06、FT3X06、FT6X36、FT3X07。

2.   优化配置模块，使之操作更流畅。

3.   支持长时间检测连接即开始测试（即插即测），以及测试完成后提示换屏。

4.   增加GPIO接口电平信号输入输出功能，支持通过输入信号启动测试，通过输出信号输出测试结果。

5.   测试数据存储方面，增加保存Message测试信息（*.txt），供工程师分析使用。*.CSV文件供程序解析使用。

6.   增加自动加载配置文件和FW文件的功能。

Wu Xun

Zeng Rui

2014-08-20

2.3.0.0

SIU板V6.3对应FW版本：V3.3

SIU板V7.3对应FW版本：V7.4

1.      自容IC增加 FPC 测试项

2.      重构画线测试模块，增加四边画线与 freepaint

3.      增加SIU板测试与烧录功能

4.      增加IC型号FT5526，支持win8整机测试

5.      FT5X46、FT5X46i增加Uniformity测试与CM测试项

6.      支持用户输入工位，系统号，并将用户信息添加到保存文件

6，支持Win8单TP的测试

7，设置时间，测试结束后，定时将GPIO端口翻转

8，MSG界面支持测试结果的高亮显示

Wu Xun

2014-10-20

2.4.0.0

SIU板V6.3对应FW版本：V3.3

SIU板V7.3对应FW版本：V7.4

1.  添加自容的Sref Open测试项，自容6X36、3X07的IC增加 CB Deviation、TE 测试项。

2. 5336的Panel Differ测试项添加BC_EN测试选项,添加Uniformity测试项。

3.FT5X46、FT5X46i增加CM逐点卡控功能，Noise测试增加Golove模式及新的测试模式，Rawdata Margin测试项。

4. 存储测试结果添加了新的路径及格式。

5. 添加画图测试的Special Button Test测试项。

Wu Xun

Zeng Rui

2014-12-18

2.5.0.0

SIU板V6.3对应FW版本：V3.3

SIU板V7.3对应FW版本：V7.4

1.   增加支持的芯片系列，包括FT5526i、FT5436、FT3X17、FT3X27、FT5822/FT5626、FT5726、FT5826B。

2.   FT5X46、FT5X46i、FT5526  等芯片增加归一化功能。

3,   FT6X36增加Differ Test；CB Deviation Test增加Base设置功能。

4.   修改FT5336芯片的SCap CB、SCap RawData、Uniformity、SCap Differ、TX short advance等测试项。

5.   空格进入、退出划线界面，FreePaint添加其No Once功能。

6.   添加测试结果统计功能。

7.   增大图标显示测试结果。

8.   修改FT5446、FT6X36、FT6X06等芯片的一些测试项。

Wu Xun

2015-02-15

2.6.0.0

SIU板V6.3对应FW版本：V3.3

SIU板V7.3对应FW版本：V7.4

1.   增加支持的芯片系列，包括FT5306、FT5406。

2.   FT5822、FT5626、FT5726 、FT5826B  等芯片增加归一化功能。

3.   互容测试NG节点增加颜色显示。

4.   修改FT5446、FT5822等芯片的一些测试项。

5.   FT5X46、FT5X46i、FT5526  等芯片增加归一化功能的double Check。

6.   增加全屏绘图功能。

Wu Xun

2015-05-07

2.7.0.0

SIU 板 V6.3 对应FW 版本： V3.3

SIU板 V7.3 对应 FW 版本：V7.4

1.   增加支持的芯片系列，包括FT8606。

2.   修改了5422和FT5822系列芯片归一化功能，仅有自动归一和整体归一。

3.   5336系列芯片添加SITO Uniformity Test测试项、Rx Short Advance Tests测试项。

4.   修改FT5446、FT5822等芯片的一些测试项的内容及发现的BUG。

5.   6X36系列芯片添加Differ Test2测试项。

6.   FT5446系列芯片增加NG Log分类。   

Wu Xun

2015-08-11

2.8.0.0

SIU 板 V6.3 对应FW 版本： V3.3

SIU板 V7.3 对应 FW 版本：V7.4

1.   增加支持的芯片，包括FT5435、FT7681、FT7661、FT7511、FT7811等。

2.   5X46系列芯片添加GPIO、LCD Noise等测试项。

3.   5336系列芯片的Uniformity测试项增加Detail设置。

4.   修改FT5446、FT5822等芯片的一些测试项的内容（如：弱短路，噪声测试等等）及发现的BUG。

5.   6X36系列芯片添加K1 Differ Test测试项。

6.   配置ini导入数据进行逐点设置时，增加一些测试项对应的GoldenSamples的平均值的保存。

7.   为互容芯片（FT5x46系列芯片、FT5822系列芯片、FT5x36系列芯片）的Project Code测试项增加ascii转换功能。

Wu Xun

2015-10-27

2.9.0.0

SIU 板 V6.3 对应FW 版本： V3.3

SIU板 V7.3 对应 FW 版本：V7.4

1.   新增加支持的芯片，包括FT3C47U、FT3407U、FT5826S 、FT8716、FT7401等。

2.   5X46系列芯片添加FPC Open 等测试项。

3.   修改FT5446、FT5822、FT8716等系列芯片的一些测试项的内容（如：噪声测试、升级延迟、打印输出、修改配置等等）及发现的BUG。

4.   6X36系列芯片添加三个相关的画线测试项：Square Test、Circle Test、Key Test。

5.   增加测试结束后，若测试NG，则弹出提示对话框。

Wu Xun

2016-03-08

3.0.0.0

SIU 板 V6.3 对应FW 版本： V3.3

SIU板 V7.3 对应 FW 版本：V7.4

1.   新增加支持的芯片，包括FT3D47、FT8607、FT8707 、FT8736、FTE716、FT5442、FT7681、FT7421等。

2.   5X46系列芯片添加panel id等测试项。

3.   5822系列芯片添加panel id等测试项,并添加download after test功能。

4.   修改FT5446、FT5822系列芯片的一些测试项的内容（如：修改LCD Noise/Noise测试的阈值偏移问题、逐点添加、修改配置页面等等）及发现的BUG。

5.   8606系列芯片添加OSC60MHZ test、OSC TRM Test、ORC Test、IVSN Test测试项。

6.   8607系列芯片添加OSC TRM Test、ORC Test、differ Test、Differ Uniformity Test、LPWG Rawdata Test、LPWG CB test、LPWG Noise Test测试项。

7.   8716系列芯片添加GPIO Test、LCD Noise Test测试项。

Wu Xun

2016-07-26

4.0.0.0

SIU 板 V6.3 对应FW 版本： V3.3

SIU板 V7.3 对应 FW 版本：V7.4

1.   新增加支持的芯片，包括FT3428U、FT6236U、FT6436U 等。

2.   为5X46、5822、8716、E716系列芯片添加Lock down信息。

3.   添加8716的测试项LCD noise、IC Type、Reset detection。

4.   添加8736的测试项cb decrease、IC Type。

5.  添加E736的测试项IC  Type及AscII显示。

6.   修改FT5X46、FT8607、FT8716、FT8736、FTE716系列芯片的一些测试项的内容（如：修改wpg noise测试项、分开rawdata的VA及Vkey区、修改配置页面等等）及发现的BUG（如：解决5X46系列芯片Oncell芯片数据溢出问题等等）。

7.   6X36系列芯片添加FoolProof test、LCD Noise Test、Report Test测试项。

8.   3C47U、3D47系列芯片添加FPC Open Test测试项。

9.   添加5822的Home key划线测试。

10.  添加6x36的press channle 划线测试。

11.  添加8716的Erase Flash测试

Wu Xun

2017-03-28

5.0.0.0

SIU 板 V6.3 对应FW 版本： V3.3

SIU板 V7.3 对应 FW 版本：V7.4

1. 新增加支持的芯片，包括FT8607U、FT8716U、FT8201、FT8006M 等。

2. 修改5422系列芯片的LCD Noise Test，Sref open test测试项。

3. 修改8716的Open test，differ2 Uniformity，short Circuit test，LCD Noise Test，Project Code Test等测试项。

4. 添加8716的测试项Write 2d Code test,Red Picture Noise Test。

5. 修改8736的short circuit test，Differ2 Uniformity Test, LCD Noise Test, Open test, differ2 test等测试项。

6. 添加8006的Open test。

7. 添加E716的Differ2 test，RedPictureNoise Test。

8. 添加8607的Flash Erase Test，3Gamma，CB single bit Test等测试项。

9. 修改8607的LCD Noise Test。

10.修改E716的project code测试。

11.修改6x36的k1 differ测试项。

12.Siu板断电后，Multiple tool不再保留上一次测试信息。

13.增加将测试结果保存到数据库的功能。

14.增加自动化测试的功能。

Wu Xun

Wan Ying

Nong De Xing