用于极限测试(迹线)(1)的状态寄存器

可疑极限通道{1-16}状态条件寄存器的状态位定义
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位的位置 |
名称 |
说明 |
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0 |
迹线15, 16迹线测试总计(可疑极限通道{1-16}附加状态寄存器总计) |
当可疑极限通道{1-16}附加状态事件寄存器中被启动位之一设定到“1”时,便设定到 “1”。 |
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1 |
迹线1极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
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2 |
迹线2极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
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3 |
迹线3极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
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4 |
迹线4极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
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5 |
迹线5极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
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6 |
迹线6极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
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7 |
迹线7极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
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8 |
迹线8极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
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9 |
迹线9极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
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10 |
迹线10极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
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11 |
迹线11极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
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12 |
迹线12极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
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13 |
迹线13极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
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14 |
迹线14极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
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15 |
未利用 |
始终为0 |
发出*CLS命令将清除可疑极限通道{1-16}状态事件寄存器中的所有的位。
可疑极限通道{1-16}附加状态条件寄存器的状态位定义
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位的位置 |
名称 |
说明 |
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0 |
未利用 |
始终为0 |
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1 |
迹线15极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
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2 |
迹线16极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
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3 - 15 |
未利用 |
始终为0 |
发出*CLS命令将清除可疑极限通道{1-16}附加状态事件寄存器中的所有的位。
尽管E5071C上提供多达36个通道,但用于极限测试的寄存器只用于最多16个通道。