用于极限测试(迹线)(1)的状态寄存器
可疑极限通道{1-16}状态条件寄存器的状态位定义
位的位置 |
名称 |
说明 |
0 |
迹线15, 16迹线测试总计(可疑极限通道{1-16}附加状态寄存器总计) |
当可疑极限通道{1-16}附加状态事件寄存器中被启动位之一设定到“1”时,便设定到 “1”。 |
1 |
迹线1极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
2 |
迹线2极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
3 |
迹线3极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
4 |
迹线4极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
5 |
迹线5极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
6 |
迹线6极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
7 |
迹线7极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
8 |
迹线8极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
9 |
迹线9极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
10 |
迹线10极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
11 |
迹线11极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
12 |
迹线12极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
13 |
迹线13极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
14 |
迹线14极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
15 |
未利用 |
始终为0 |
发出*CLS命令将清除可疑极限通道{1-16}状态事件寄存器中的所有的位。
可疑极限通道{1-16}附加状态条件寄存器的状态位定义
位的位置 |
名称 |
说明 |
0 |
未利用 |
始终为0 |
1 |
迹线15极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
2 |
迹线16极限测试不合格 |
当测量周期开始时,设定到“0”; |
3 - 15 |
未利用 |
始终为0 |
发出*CLS命令将清除可疑极限通道{1-16}附加状态事件寄存器中的所有的位。
尽管E5071C上提供多达36个通道,但用于极限测试的寄存器只用于最多16个通道。